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在530KHz到1.1MHz的频段范围内，测量出的辐射干扰超出了模板的限量。同时，我们还测试了将连接雷达模块线缆断开的情况，发现仍然通不过标准。分析分析上图的谱线我们可以得到一些信息：在低频范围内，该设备的辐射噪声是超出标准的，我们假定引起这个问题的，是一个低频的数字信号。相对较宽的频谱，不含离散的谱线，意味着该超标的频谱噪声来源很可能是来自于控制器本身或者控制器和雷达模块之间的串行接口。正如我们之前提到的，断开控制器和雷达模块之间的线缆，测试也没通过，所以我们初步认为，引起这个超标的源头在于控制器。LED的芯片其实就是个半导体，有如以下的IV曲线。反向电压如果加的过高，LED会因被击穿而损坏，所以很多时候我们需要去测量反向电压。若只是单纯要测量芯片的特性，基本上使用电源和万用表即可。主要可测试的项目包括正向电压、击穿电压、漏电流…测试LED的整体IV曲线特性几个参数正向电压:Vf击穿电压:Vr漏电流:IL这些项目的测试其实并不算困难，但必须要选对合适的测量仪器。若是选择了不适合的测量仪器，测试的值误差则会非常大。
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