而如果C的容值越小，对电路的影响也就越小。但限于目前的测试系统，C3和串联后的电容值是几个F的级别，而C1通常是20~30F，所以仪器对负载电容量的影响在10﹪以上，终会导致测量结果产生几个m（单位，百万分之一）的频率偏差，通常电路设计对晶体频偏的要求是30m左右，所以这个影响还是不能忽视的。但如果使用频谱分析仪，配合近场测试，因为仅在空间上有电磁场的耦合，所以仪器的影响可以忽略。红外热像仪能对零度以上物体发出的热辐射生成热图像。通过提供每一个像素的温度测量值，研究人员可以以非接触的方式对某一场景进行观察和测温。由于红外热像仪提供的数据比热电偶或点温仪要多，而且可以追踪随时间推移所发生的温度变化，所以它们非常适合用于研究和工程设计项目。制冷型与非制冷型红外探测器红外探测器大体可分为两类：一类是热探测器，另一类是量子探测器。热探测器，比如微测辐射热计，会对射入的辐射能产生反应，加热像素，通过电阻的变化来反映出温度的变化。
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