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    智能保险丝测试仪500A-0.2级ZA-607B锐科使用方法

    更新时间:2024-05-02 11:28:54   浏览数:36
    所属行业:仪表仪器>计量标准器具>电磁学计量标准器具
    发货地址:青岛  
    产品型号:ZA
    供应数量:100套
    包装说明:铝合金
    单 价:199.80元/套

    基本参数

    输入电压220 输入电流3A 输出电压2000V 输出电流10000A 频率50HZ 精度0.05级 采样率1000M 分辨率0.001
    HNDL100丝测试仪 熔断丝测试仪
    智能丝测试仪500A-0.2级ZA-607B锐科使用方法智能丝测试仪是一款用于小型熔断器性能测试的用仪器,用于管熔断时间、熔断电流的检测,满足标准G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相关标准中的熔断、耐久性试验要求。本仪器采用7寸显示触摸屏显示和参数设置,采用ARM控制器进行控制采集,试验电流高达200A的试验设备。具有操作简便,智能可靠等特点。
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    < align="center" style="text-align:center;"> 项目 < align="center" style="text-align:center;"> 要求及指标
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    <> 输入电压范围 <> 220V±10﹪50Hz/60Hz
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    <> 测试电流范围 <> 0.5~150A1﹪RD±0.2﹪fs
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    <> 测试开路电压精度 <> 1﹪RD±0.2﹪fs
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    <> 试验模式 <> 熔断时间测试 M1和耐久性测试M2
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    < style="text-indent:21.0000t;"> &nbs; <> 测试时间范围 < style="text-indent:21.0000t;"> &nbs; <> M1 模式时间范围:10mS--60分钟 <> M2 模式时间范围:10mS--100小时
    <>
    <> 耐久性时间设置 <> 0~99H59M
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    <> 次数设置 <> 0~9999
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    <> 时间分辨率 <> 10ms
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    <> 测试电流步 <> 50mA~1A,可设置
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    <> 测试电流精度 <> M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mASET’为设置数值), <> M2 模式<±0.5﹪SET + 100mASET’为设置数值)
    <>
    <> 测试时间精度 <> M1 模式< ±10mS+0.3﹪RDRD’为实际工作时间数值), <> M2 模式<±10mS+0.5﹪RDRD’为实际工作时间数值)
    <>
    <> 显示方式 <> 7 寸触摸屏显示
    <>
    <> 控制方式 <> FPGA+ARM 控制
    <>
    <> 其他 <> 支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能,免费开放通信接口及提供底层通信协议

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    操作气泡水平仪、铅锤和粉笔等传统工具通常需要至少两个人。借助福禄克激光水平仪,一个人就能在地面上量出一个网格图,并将点传送到天花板,从而确保。这可程度减少攀爬梯子或升降梯的次数,并节约时间和降低风险。过去花几个小时,现在只需几分钟,这使您的工作更更。有时需要帮助才能找到问题的根源即使您眼力出色,要在充满灰尘或阴暗的环境里看清一条粉笔线也并不容易。如果环境又潮又湿,粉笔线很可能会消失。半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAccetanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecie自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。

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